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簡(jiǎn)要描述:光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng),可以幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。
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品牌 | Enlitech | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 | EL-EQE?un-repeatability | <1% |
EL-EQE?un-reproducibility | <1.5% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可以檢測(cè)極低的 EL-EQE 信號(hào)(低至 10-5%,即 7 個(gè)數(shù)量級(jí)),還可以計(jì)算熱力學(xué) Voc、輻射復(fù)合 Voc 和非輻射復(fù)合 Voc(通過(guò)其軟件SQ-VLA)。此外,也可以在一個(gè)柱狀圖中分析不同類型設(shè)備之間的ΔE1、ΔE2和ΔE3損耗。重要的是,分析軟件可以幫助用戶將計(jì)算出的Voc-loss與設(shè)備IV曲線的真實(shí)Voc-loss進(jìn)行匹配,從而促進(jìn)研究進(jìn)展和期刊發(fā)表。
*它可以測(cè)量:absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。
*該軟件可以顯示的圖表包括:EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲線、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方圖。
*該系統(tǒng)可以計(jì)算和分析熱力學(xué)Voc、輻射復(fù)合Voc和非輻射復(fù)合Voc。
*波長(zhǎng)檢測(cè)范圍:300~1100納米;并可擴(kuò)展到1700納米(選項(xiàng))。
* NIST-traceable absolute radiometric calibration(瓦特,從300~1100納米)。
*EL-EQE檢測(cè)范圍:10-5%到極大值(動(dòng)態(tài)范圍7階)。
*EL-EQE un-repeatability<1%。
*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。
*EL低光檢測(cè)SN比:>50:1 @5×10-5%(REPS Pro)。
*Glove Box 整合工具包。
*客制的測(cè)試夾具。
REPS系統(tǒng)另有進(jìn)階類型(REPS Pro),其規(guī)格比較如下:
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可用于:
– 改善OPV的Voc-loss
– 改善鈣鈦礦 Voc-loss
– 電荷傳輸狀態(tài)識(shí)別
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