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光致發(fā)光與發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng)適用測(cè)試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率)。
PLQY 是評(píng)價(jià)發(fā)光材料的重要指標(biāo),除了可以用來(lái)對(duì)材料進(jìn)行初級(jí)分類(lèi)的基本參數(shù),且對(duì)于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。

  • 產(chǎn)品型號(hào):LQ-100X-PL
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-04-03
  • 訪  問(wèn)  量: 7112

詳細(xì)介紹

品牌Enlitech價(jià)格區(qū)間面議
測(cè)量模式交流產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子尺寸大小502.4mm(L)?x?322.5mm(W)?x?352mm(H)
波長(zhǎng)1000?nm至1700?nm

光焱科技LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng)介紹


什么是 PL?

PL (Photoluminescence, 光致發(fā)光):當(dāng)材料吸收光子后,電子躍遷至激發(fā)態(tài),再回到低能態(tài),將能量以光的形式發(fā)出。

什么是 PLQY?

PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率) 計(jì)算方式為發(fā)出的光子數(shù)除以吸收的光子數(shù)。PLQY 是評(píng)價(jià)發(fā)光材料的重要指標(biāo),除了可以用來(lái)對(duì)材料進(jìn)行初級(jí)分類(lèi)的基本參數(shù),且對(duì)于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。

LQ-100X-PL 如何測(cè)試 PLQY?

量測(cè)背景訊號(hào)

量測(cè)樣品

計(jì)算樣品的光致發(fā)光量子產(chǎn)率


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PL PLQY 是研究材料表征的重要工具,目前材料測(cè)試面臨挑戰(zhàn)有以下三點(diǎn):

(1) 無(wú)法在手套箱內(nèi)測(cè)試。

(2) 無(wú)法進(jìn)行原位時(shí)間光譜解析。

(3) 紅外波段擴(kuò)展不易。

LQ-100X-PL 針對(duì)上述的3大痛點(diǎn),做出了應(yīng)對(duì)。


特色

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng) 擁有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì):

*以緊湊的設(shè)計(jì),尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H),搭配 4 吋外徑 PTFE 材質(zhì)的積分球,并且整合 NIST 追溯的校準(zhǔn),讓手套箱整合 PL 與 PLQY 成為可能。

*利用*進(jìn)的儀表控制程序,可以進(jìn)行原位時(shí)間 PL 光譜解析,并且可產(chǎn)生 2D 與 3D 圖表,說(shuō)明用戶可以更快地表征材料在原位時(shí)間的變化。

*系統(tǒng)光學(xué)設(shè)計(jì)可容易的做紅外擴(kuò)展,波長(zhǎng)由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可兼容測(cè)試。


規(guī)格

標(biāo)準(zhǔn)配置:

*全向式收光系統(tǒng) (100 mm 積分球)

*增強(qiáng)型多信道光譜儀測(cè)試系統(tǒng)

*光致發(fā)光量測(cè)模塊 (365 nm LED 激發(fā)光源)

*量測(cè)軟件

*工控機(jī)與屏幕

選配規(guī)格:

*EL光譜整合測(cè)試套件 (源表/PMT模塊/背探式樣品盒/多通道手動(dòng)切換盒/EL量測(cè)軟件升級(jí))

*紅外光譜擴(kuò)充模塊 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件

*激發(fā)光源

*LED光源 (長(zhǎng)可選:365 nm / 405 nm / 455 nm / 470 nm / 505 nm / 530 nm / 590 nm / 660 nm / 810 nm / 850 nm / 940 nm)

*Laser光源 (波長(zhǎng)可選:380 nm / 405 nm / 520 nm / 635 nm / 785 nm / 808 nm / 832 nm / 880 nm / 940 nm)


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應(yīng)用范圍


LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測(cè)試系統(tǒng) 可用于:

*熒光粉 (Phosphor)

*發(fā)光二極管熒光材料 (LED fluorescent material)

*有機(jī)發(fā)光二極管熒光材料 (OLED fluorescent material)

*鈣鈦礦 (Perovskite)

*雷射染料 (Laser dies)

*鈣鈦礦量子點(diǎn)粉末與單晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)

*PbS 量子點(diǎn) (PbS quantum dot)

實(shí)證

*PL 光譜顯示


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LQ-100X-PL 系統(tǒng)可以針對(duì)多種材料進(jìn)行 PL PLQY 測(cè)試。步驟如下:

1.測(cè)量背景訊號(hào),如圖中藍(lán)色曲線,并可計(jì)算入射激發(fā)光子總數(shù)。

2.測(cè)量樣品光譜,如圖中綠色曲線。計(jì)算得到發(fā)射光子總數(shù)。

3.計(jì)算 1. 2. 步驟中,樣品吸收光子率與吸收光子總數(shù)。

4.由 1. 3. 相除可得到 PLQY。



*發(fā)射光譜分析



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LQ-100X-PL 軟件可以針對(duì) PL 發(fā)射光譜進(jìn)行多種分析,以定量的表征材料的特性。包含:

1.發(fā)光 CIE 色坐標(biāo)

2.CIE-xyz

3.CIE-XYZ

4.CIE-uv

5.色溫

6.色彩純度


*原位時(shí)間解析 PL 光譜變化



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LQ-100X-PL 除了 PLQY 測(cè)量外,還可進(jìn)行 PL 光譜隨時(shí)間變化連續(xù)測(cè)試,并繪制成 2D 或 3D 顯示圖-稱(chēng)為原位時(shí)間解析 PL 光譜圖。如圖所示,鈣鈦礦的 PL 光譜隨著時(shí)間增加的變化,可以波長(zhǎng)半寬 (FWHM) 隨之增加,并且產(chǎn)生中心波長(zhǎng) (Peak Lambda) 紅移的現(xiàn)象。分析原位時(shí)間解析 PL 光譜圖,對(duì)于新型材料如鈣鈦礦的穩(wěn)定性或亞穩(wěn)態(tài)特性,具有直接的的證據(jù)說(shuō)服力。是材料表征的理想工具。











 

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