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簡(jiǎn)要描述:光焱科技 QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于高效太陽(yáng)能電池研發(fā)。QE-RX 不僅可以測(cè)量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 數(shù)據(jù),還可以通過結(jié)合分析軟件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 損失。光焱在 QE-RX 內(nèi)整合了三種不同的測(cè)試功能,并開發(fā)了 SQ-JVFLA 軟件,幫助用戶通過使用 Shockley-Queisser 熱極限理論分析三種不同的損失。QE-RX 是您
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品牌 | Enlitech | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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測(cè)量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 | Lamp?Wavelength?Range | 300nm~2000nm |
Measuring?Wavelength?Range | 300nm~1200nm | Jsc?Un-Repeatability | <0.1% |
Jsc?Uncertainty | <0.15% | Dark?box | 800mmx800mmx920mm |
提升精度的實(shí)驗(yàn)室利器 _ AM1.5G太陽(yáng)光模擬器搭光伏太陽(yáng)能電池效率-損失分析解決方案搭載 SPOT-V 光斑觀測(cè)器
光斑觀測(cè)器 為何能助您科研精進(jìn)?
·清晰觀察: 在暗室或光線有限的實(shí)驗(yàn)環(huán)境中,也能清晰觀測(cè)光斑,確保樣品處于最佳受光區(qū)域。
·簡(jiǎn)便易用: 即插即用,無(wú)需繁瑣設(shè)置,適用于各種光譜系統(tǒng),讓您輕松掌握光斑位置。
·多功能應(yīng)用: 無(wú)論是微小樣品還是復(fù)雜的光譜實(shí)驗(yàn),都能提供可靠的觀測(cè)支持,幫助您進(jìn)行精準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和數(shù)據(jù)分析。
·提升效率: 光斑觀測(cè)器能有效避免光斑偏移或樣品偏移問題,保障每次測(cè)量的準(zhǔn)確性,提升實(shí)驗(yàn)效率,降低誤差。
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 的特色如下:
*高度準(zhǔn)確且低不確定性
QE-RX 的校準(zhǔn)是NIST 可追溯的,這使得 QE-RX 的測(cè)試數(shù)據(jù)的不確定性低于任何其他 EQE 測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí),QE-RX 是由Enlitech 開發(fā)的,Enlitech 擁有 10 年的ISO / IEC 17025 認(rèn)證的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。這使得 QE-RX 對(duì) Si 太陽(yáng)能電池的測(cè)試結(jié)果高度準(zhǔn)確。依靠 QE-RX,它將為您提供可靠的結(jié)果。
*結(jié)構(gòu)緊湊但功能多樣
QE-RX 將所有光學(xué)和機(jī)械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主體內(nèi),其中包括電信號(hào)采集鎖相放大器。不限于其緊湊的尺寸,QE-RX 仍然提供各種測(cè)試數(shù)據(jù),包括太陽(yáng)能電池的 EQE、光譜響應(yīng)、反射率和 IQE。緊湊而多功能是 QE-RX 的優(yōu)勢(shì)。
*功率損耗分析
QE-RX 結(jié)合 SQ-JVFL 軟件,可以提供最完整的分析功能,包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和帶隙計(jì)算。這些參數(shù)是生產(chǎn)產(chǎn)量控制和效率建議的關(guān)鍵因素,這使得 QE-RX 成為光伏行業(yè)的最佳合作伙伴。
.用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接觸、雙面和 TOP-Con 硅太陽(yáng)能電池
.提供 QE(量子效率)、PV-EQE(外部量子效率)、IPCE(入射光子-電子轉(zhuǎn)換效率)、SR(光譜響應(yīng))、IQE(內(nèi)部量子效率)和反射率方面的數(shù)據(jù)。
.結(jié)構(gòu)緊湊且重復(fù)性高超過 99.5%。
.波長(zhǎng)范圍:300~1200 nm
.Jsc損失分析和報(bào)告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.職業(yè)損失分析和報(bào)告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.FF損失分析和報(bào)告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.提供的EQE不確定度評(píng)估報(bào)告和經(jīng)ISO/IEC 17025認(rèn)證的質(zhì)量控制,可用于期刊論文投稿。
.多樣化和定制化的樣品測(cè)試裝置。
QE-RX主機(jī)功能 | ? 測(cè)量波長(zhǎng)范圍:300-1200nm (可擴(kuò)展) ? 各波長(zhǎng)測(cè)量重復(fù)性:300-390nm 平均不重復(fù)性≦ 0.3%,400-1000 nm 平均不重復(fù)性 ≦ 0.15%。1000-1200nm波長(zhǎng)平均不重復(fù)性 ≦ 0.25% ? 短路電流密度不重復(fù)性 ≦ 0.1% ? 準(zhǔn)確性<0.1% ? 量測(cè)10次計(jì)算平均不重復(fù)性 = 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差/平均值* 100% ? 測(cè)量時(shí)間:300-1200nm,掃描間隔10nm,測(cè)量不超過3分鐘 ? 測(cè)量暗箱:80cm測(cè)量遮罩暗室 ? 適用環(huán)境: 溫度15~35度,濕度20%~65% ? 具備短路電流、開路電壓、填充因素三大損耗分析 |
軟件功能 | ? 絕對(duì)光強(qiáng)校正 ? 光譜響應(yīng)測(cè)量 ? 外部量子效率測(cè)量(EQE) ? 帶寬能隙分析(Bandgap) ? 自動(dòng)、即時(shí)短路電流密度Jsc計(jì)算 ? 單波長(zhǎng)短路電流自動(dòng)計(jì)算 ? 獨(dú)立控制操作整體硬件系統(tǒng)及資料讀取 ? 光譜失配因素計(jì)算(MMF) ? 信號(hào)監(jiān)控功能 ? 任意AM光譜短路電流密度計(jì)算功能 ? 資料保存格式txt | |
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于:
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太陽(yáng)能電池效率-損失分析
*IEC-60904-8 光譜響應(yīng)測(cè)量
*IEC-60904-7 失配系數(shù)計(jì)算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太陽(yáng)能電池加工質(zhì)量控制
*矽太陽(yáng)能電池帶隙測(cè)定
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